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2025-09
BeNano 180 Zeta Max突破技術(shù)邊界：沉降法實(shí)現(xiàn)微米級(jí)顆粒精準(zhǔn)檢測(cè)
丹東百特儀器有限公司新發(fā)布的BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀，通過創(chuàng)新性地整合沉降法檢測(cè)技術(shù)，成功將納米粒度儀的檢測(cè)范圍擴(kuò)展至微米級(jí)領(lǐng)域。這一技術(shù)突破有效彌補(bǔ)了傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光 ...
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